VI Chip高压BCM
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查看全部 500 份 →微弱电流及VI法高电阻测量
本文分析了影响VA法高阻测量精度的主要因素，设计了以单片机为核心的高阻测量仪。采用加压浏流 的 方 案 ， 运用 双 屏蔽输入电缆、优选输入级器件、隔离等关健技术，使电阻浏量可达10160，电流测量可达10一”Aa
2013-10-30
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2017-03-01
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